自动测试图样产生（英语：Automatic test pattern generation, ATPG）系统是一种工具，产生资料给制造出来后的数字电路作测试使用。

超大规模集成电路的测试平台，要达到非常高的错误涵盖率是非常困难的工作，因为它的复杂度很高。针对组合逻辑电路（Combinatorial logic）和时序逻辑电路（Sequential logic）的电路测试，必须要使用不同的 ATPG 方法。